Multi-Instrument Full Package 3.7

Sur Multi-Instrument Full Package

Multi-Instrument est un puissant logiciel d’instruments virtuels multifon. Il prend en charge une variété de matériel allant des cartes son aux matériels propriétaires ADC & DAC tels que les cartes NI DAQmx. Les fonctions incluent : (1) Oscilloscope : Forme d’onde à double trace, ajout de forme d’onde, soustraction et multiplication, modèle de Lissajous, enregistrement de signal, filtrage numérique. (2) Analyseur de spectre : Spectre d’amplitude, analyse d’octave (1/1,1/3,1/6,1/12,1/24,1/48,1/96), compensation de fréquence, pondération des fréquences (A,B,C,ITU-R 468), prise de pointe, moyenne linéaire/exponentielle, mesure du THD, THD+N, SNR, SINAD, Noise Level, IMD, Bande passante, Crosstalk, pics, harmoniques, spectre de phase, corrélation auto/croisée, fonction de cohérence, fonction de transfert, réponse impulsion. Supportez 55 fonctions de fenêtre et chevauchement de fenêtre. (3) Générateur de signal : Fonction/Multitone/Forme d’onde arbitraire/Tonalité d’éclatement/MLS/DTMF/Échelle musicale/Bruit blanc/Génération de bruit rose, balayage de fréquence/amplitude, fondu dans/dehors. (4) Multimètre : voltmètre, compteur de niveau de pression sonore (dB, dBA, dBB, dBC), compteur de fréquence, compteur de régime, compteur, compteur de cycle de service, convertisseur F/V, moyenne de cycle/RMS, vibromètre. (5) Spectrum 3D Plot: cascade et spectrogramme. (6) Enregistreur de données : fonction d’enregistrement de données à long terme pour 129 variables dérivées, y compris la valeur RMS, etc. Jusqu’à huit fenêtres de enregistreur de données peuvent être ouvertes et chaque fenêtre peut tracer jusqu’à 8 variables. (7) Compteur LCR : Il est utilisé pour mesurer la valeur d’un inducteur, d’un condensateur ou d’une résistance, ou l’impedance d’un réseau d’entre eux. (8) Plan de test de périphérique : Il fournit un mécanisme pour configurer et effectuer vos propres étapes de test d’appareil. Il tire parti de la capacité des cartes son (ou d’autres périphériques ADC/DAC) de sortie d’entrée simultanée, de générer un stimulus à l’appareil en cours de test (DUT) et d’acquérir la réponse à partir de cet appareil en même temps. Différents stimuli peuvent être générés et la réponse peut être analysée de différentes façons. Visitez www.virtins.com plus de détails.