FreeDATA

Licence: Gratuit ‎Taille du fichier: N/A
‎Note des utilisateurs: 5.0/5 - ‎1 ‎Votes

Sur FreeDATA

Ensemble d’analyse de données de microlithographie capable d’adapter les ensembles de données de type Bossung, également connus sous le nom de matrices d’exposition de mise au point. Mots-clés: Lithographie, Photolithographie, Photorésist, Fenêtre de processus, Dimension critique, CD, Bossung, FEM